• 三角形检测法
• 高精度测量
产品详情
参数
Parameter
Size
一、可对多种材质物体进行测量针对漫反射、透明以及半透明物体进行测量。 |
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二、检测原理JG-D系列测量原理就是使用三角形测量法检测CMOS反射光的位置。 通过测量该变化就能测量目标物的位置。 |
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三、高精度测量JG-D系列针对小型精密产品可精确地聚焦/检测来自被测物体的反射， 即使是高速移动/转动/振动物体,亦可高精度测量 。 |
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| 应用场景 | ||||
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| 测量PCB变形 | 工件平面度检测 | 测量压力驱动器的振动 | ||
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| 调整内倾/外倾角 | 测量转动盘片的偏转 | 焊接流程的高度控制 | ||
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| 测量薄膜厚度 | 调整HDD手臂的装配 | 钢板双层送料检出 | ||
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彩色激光同轴位移计
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